lunes, 26 de julio de 2010

Instrumentos de Difracción

La difracción de rayos X (DRX) es una de las técnicas más poderosas para el análisis cualitativo y cuantitativo de fases sólidas cristalinas, tanto orgánicas como inorgánicas, en muestras de polvo, capas finas o cristales de una amplia gama de materiales (minerales, rocas, sedimentos, suelos, partículas atmosféricas, residuos, metales, aleaciones, plásticos, materiales de construcción, productos químicos, productos farmacéuticos, cerámicas, pigmentos, etc.). El dispositivo de espejos Göbel permite, además, el análisis no destructivo de gemas, joyas, piezas arqueológicas y obras de arte.

La espectrometría de fluorescencia de rayos X (FRX) es un método rápido y preciso para el análisis químico de elementos mayores y trazas de muestras sólidas (rocas, suelos, sedimentos, material particulado, vegetales, residuos, etc...) y líquidas (aceites, hidrocarburos, vinos, etc.), en un amplio rango de concentraciones.

Los servicios ofertados en esta Unidad se resumen en los siguientes puntos:

1.Preparación de muestras de polvo y/o agregado orientado para análisis por DRX de materiales cristalinos.
2.Obtención e interpretación de los difractogramas de polvo.
3.Preparación de pastillas y perlas de vidrio para análisis por FRX.
4.Análisis químico cualitativo por FRX de elementos mayores y trazas, desde el boro al uranio.
5.Análisis químico cuantitativo por FRX, con límites de detección en torno 300 ppm para elementos mayores y del orden de 10 ppm para elementos traza.
6.Determinación de la pérdida de peso por calcinación.

Instrumentación


En la actualidad, la Unidad de Rayos X dispone de un difractómetro de polvo y un espectrómetro de fluorescencia, adquiridos en 2005 y cofinanciados por la UE a través de los fondos FEDER.

Se trata de unas técnicas instrumentales modernas, de alto rendimiento y fiabilidad, con numerosas prestaciones para la investigación básica y aplicada, y el desarrollo tecnológico. Los equipos están homologados por el Consejo de Seguridad Nuclear, y son revisados periódicamente por técnicos especialistas de la firma Bruker.


•Difractómetro de rayos X marca Bruker D8 Advance, caracterizado por una gran exactitud y versatilidad de uso. El equipo está dotado de una fuente rayos X con ánodo de cobre, de alta estabilidad, y un detector de centelleo. Puede trabajar tanto en geometría Bragg-Brentano como con espejos Göbel. El difractómetro dispone de un intercambiador de muestras automático que puede comenzar a medir en posiciones de 0º de 2 theta. El equipo está conectado a un ordenador dotado con el paquete de software DIFFRACplus, para la adquisición, tratamiento y evaluación de los datos difractométricos.




Espectrómetro de fluorescencia de rayos X marca Bruker S4 Pioneer, provisto con tubo de Rh y detectores de flujo y centelleo, ofrece la determinación rápida y fácil de concentraciones de elementos mayoritarios y trazas en muestras sólidas y líquidas. El equipo está dotado de un sistema robotizado para el cambio de muestras, lo que permite programar un gran número de análisis. El software integrado SPECTRAplus facilita las calibraciones, suministrando parámetros de medida optimizados y permite realizar fácilmente las operaciones de rutina y preparación de informes.





Material Auxiliar


•Prensa hidráulica marca NANNETTI y modelo MIGNON SS, para la preparación de muestras en forma de pastillas.
•Perladora marca CLAISSE y modelo FLUXY 30, para la obtención de perlas de vidrio a partir de la fusión de muestras de polvo.


Difracción de rayos X (DRX). Aplicaciones:

•Identificación de sustancias cristalinas desconocidas.
•Análisis cualitativo y cuantitativo de fases cristalinas.
•Caracterización y desarrollo de nuevos materiales.
•Control de calidad de materias primas y productos finales.
•Especiación de arcillas.
•Determinación de transformaciones de fase.
•Determinación de parámetros estructurales.
•Determinación del grado de orden estructural.
•Detección de imperfecciones cristalinas.

Campos de aplicación

Cristalografía, Mineralogía, Química Inorgánica, Química Analítica, Geología, Edafología, Metalúrgia, Cerámica, Farmacia, Ciencia de Materiales, Ciencias Ambientales, Arqueometría, etc.

Fluorescencia de rayos X (FRX). Aplicaciones:

•Control de calidad.
•Análisis medioambiental: aguas, sedimentos, suelos, aerosoles, material particulado, residuos, etc.
•Análisis de materiales: minerales, rocas, aleaciones, catalizadores, cerámicas, nuevos materiales, etc.
•Análisis biológicos: tejidos, fluidos, plantas, cultivos, etc.
•Análisis industrial: pinturas, pigmentos, hidrocarburos, aceites, vinos, cementos, vidrios, cenizas, etc.
•Análisis arqueológicos: cerámicas, monedas, utensilios, huesos, etc.
•Análisis forenses: análisis de micromuestras en cualquier tipo de matriz.

Campos de aplicación

Química Analítica, Química Inorgánica, Química Industrial, Ciencia de Materiales, Mineralogía, Petrología, Geoquímica, Geología, Minería, Ciencias Ambientales, Biología, Edafología, Agricultura, Arqueometría, Ecotoxicología, Medicina Forense, etc.Solicitudes y normas de funcionamiento.

Nombre: Victor Adolfo Vega Flores
Ci: V-18.353.846
Asignatura: CRF

La Difractometría Láser

En los últimos años, el procesamiento de imágenes se ha convertido en una poderosa herramienta de análisis en muchas aplicaciones, incluyéndose la difractometría láser, que es una buena herramienta para la caracterización de pequeñas partículas, pues con ella se obtiene información acerca del tamaño de las mismas, parámetro que es muy importante en diversos campos de la ingeniería de materiales. En este trabajo se presentan los resultados obtenidos para el tamaño de pequeñas partículas a partir de difractometría láser y se ilustra el tratamiento realizado para extraer el valor de la medida.

Marco Teórico

El principio de la Difractometría Láser se basa en la difracción de Fraunhofer, para la cual el tamaño de la partícula es mucho mayor que el de la longitud de onda. Es decir, la difractometría láser se explica por medio del principio de Huygens; el cual toma a las partículas como emisoras de segundos frentes de onda y explica el patrón formado como su interferencia en campo lejano. Considerándose que la partícula tiene forma esférica, el análisis de la distribución de intensidad en el plano de observación se encuentra descrito por la ecuación:



donde J1 es la función de Bessel de primer orden, S1, S2, S3,S4 son funciones de amplitud y para la difracción de Fraunhofer S3 y S4 son cero [1].

El ángulo del primer mínimo de intensidad en el patrón de franjas originado por la esfera está relacionado con el tamaño “d” de la misma, y con la longitud de onda λ por medio de:


El patrón de las partículas obtenidas por medio de difractometría láser puede aparecer alterado debido a diferentes causas, como por ejemplo el speckle originado por la fuente de luz láser, patrones de difracción de partículas presentes en el ambiente o imperfecciones en los implementos utilizados (lentes, filtros, elementos de sensado,etc); a causa de ello, se hace necesario procesar las imágenes para obtener un tamaño de partícula más fiable.

Para minimizar la aparición de éste tipo de errores como primera medida se deben seleccionar elementos en buenas condiciones y realizar un buen filtrado y colimación del haz; sin embargo, existen factores aleatorios que deterioran la calidad de la imagen, por lo que es necesario realizarle procesamiento a la imagen. Este involucra varias etapas, la primera consiste en realizar un filtrado de la imagen para eliminar el ruido en la misma, el cual generalmente consiste en la aplicación de filtros pasabajos, ya sea en el dominio del espacio o en el de la frecuencia. El siguiente paso consiste en resaltar los elementos de interés dentro de la imagen con el fin de prepararla para la segmentación, donde las regiones de interés se aíslan del fondo. Finalmente, las características deseadas se extraen empleando morfología binaria


Montaje Experimental

Como fuente de luz se empleó un láser de He-Ne debidamente filtrado y colimado, a continuación se ubicaron muestras de pequeñas partículas de polvo, mezcladas con
agua destilada, sobre un portaobjetos donde el haz láser apuntaba.



Para llevar la imagen al plano de la transformada de Fourier se utilizó una lente convergente de distancia focal de 5cm y el patrón fue capturado por una cámara CCD de 648x480 pixeles2, ver Fig.1 [1].

El tamaño de las partículas se obtuvo llevando a cabo un procesamiento digital de las imágenes que consistió en las siguientes fases: (1) Selección del área de interés, (2) Filtrado,(3) Umbralización, (4) Esqueletización, (5) Filtrado de pequeñas partículas, (6) Medición de pixeles entre los primeros máximos de la función de Bessel, (7) Conversión del número de pixeles a longitud teniéndose en cuenta que cada píxel mide 9.9μm y (8) Cálculo del diámetro de la partícula a través de la ecuación 2, aplicándose la longitud hallada entre los máximos de la función de Bessel.

Resultados

En las siguientes imágenes se observa el proceso efectuado sobre el patrón capturado por la cámara CCD, en las cuales se muestra la evolución de la imagen hasta obtenerla de forma mejorada:






Conclusiones

El procesamiento de imágenes es una herramienta útil que permite atenuar distorsiones propias de los elementos presentes en un sistema de difractometría láser, tales como defectos en lentes, partículas en el ambiente, speckle, entre otros, permitiendo una determinación más confiable de los máximos y mínimos presentes en el patrón que a simple vista.



Nombre: Victor Adolfo Vega Flores
Ci: V-18.353.846
Asignatura: CRF

Métodos de difracción de Rayos X

Los rayos X son la radiación electromagnética, invisible, capaz de atravesar cuerpos opacos. Su longitud de onda se encuentra entre los 10 a 10.1 nanómetros (nm), correspondiendo a frecuencias del rango de 30-30 PHz. Los rayos X surgen de fenómenos extra nucleares, a nivel de la órbita electrónica, principalmente producidos por desaceleraciones de electrones. La energía de los rayos X es del orden de 12.3KeV (kilo electronvoltio). Demostración (Ejercicio 1. Demostrar lo anterior) La energía por fotón es:


Donde h es la constante de Planck (h=4.1357x10-15eV s) y λ la frecuencia de los rayos x, que puede ser expresada por medio de su longitud de onda (λ) y la velocidad de la luz (c), como

Tal que podemos reexpresar (1) como


Por este tipo de características (tamaño de λ y energía) es que los Rayos X pueden ser utilizados para explorar la estructura de los cristales por medio de experimentos de difracción de rayos X, pues la distancia entre los átomos de una red cristalina es similar a λ de los rayos X.

Cristalografía de Rayos X

Es una técnica que utiliza un haz de rayos X que atraviesa un cristal. Al entrar en contacto con el cristal, el haz se divide en varias direcciones debido a la simetría y agrupación de los átomos y, por difracción, da lugar a un patrón de intensidades que puede interpretarse según la ubicación de los átomos de los cristales, aplicando la ley de Bragg.


Métodos de difracción de Rayos X

Cuando el haz de rayos X incide sobre un cristal, provocara que los átomos que conforman a este dispersen a la onda incidente tal que cada uno de ellos produce un fenómeno de interferencia que para determinadas direcciones de incidencia será destructivo y para otras constructivo surgiendo así el fenómeno de difracción. La información que proporciona el patrón de difracción de Rayos X, se puede ver como dos aspectos diferentes pero complementarios: por un lado, la geometría de las direcciones de difracción (condicionadas por el tamaño y forma de la celdilla elemental del cristal) nos ofrecen información sobre el sistema cristalino. Y por otro lado la intensidad de los rayos difractados, están íntimamente relacionados con la naturaleza de los atomos y las posiciones que ocupan en la red, talque su medida constituye la información tridimensional necesaria para conocer la estructura interna del cristal. En general, existen tres grandes métodos de difracción de rayos X utilizados, como lo son:

- Método de Laue
- Método de movimiento o Rotación total o parcial del cristal
- Método del Polvo

Método de Laue

Históricamente fue el primer método de difracción. Se utiliza un Policromatico de Rayos X que incide sobre un cristal fijo y perpendicularmente a este se sitúa una placa fotográfica plana encerrada en un sobre a prueba de luz. El haz directo produce un ennegrecimiento en el centro de la película y por lo tanto, se pone un pequeño disco de plomo delante de la película para interceptarlo y absorberlo. En sus primero experimentos usó radiación continua incidido sobre un cristal estacionario. El cristal generaba un conjunto de haces que representan la simetría interna del cristal.

El diagrama de Laue es simplemente una proyección estereográfica de los planos del cristal (figura 1).



Existen dos variantes de dicho modelo, dependiendo de la posición del cristal respecto a la placa fotográfica, y puede ser:

- Método de laue en modo transmisión: La película se coloca detrás del cristal para registrar los rayos que son transmitidos por el cristal. Un lado del cono de reflexiones de Laue es definido por el rayo de transmisión. La película cruza el cono, de manera que las manchas de difracción generalmente se encuentren sobre una elipse.



- Método de Laue en modo reflexión: La película es colocada entre la fuente de rayo X y el cristal. Los rayos que son difractados en una dirección anterior son registrados. Una parte del cono de reflexiones de Laue es definido por el rayo transmitido. La película cruza el cono, de manera tal que las manchas de difracción se encuentran generalmente están sobre una hipérbola.





Aplicaciones

En la actualidad, este método se utiliza para determinar la simetría: si un cristal se orienta de tal manera que el haz incidente sea paralelo a un elemento de simetría, la disposición de las manchas en la fotografía revela su simetría. Una fotografía según este método de un mineral tomado con el haz incidente paralelo al eje binario de un cristal monoclínico, mostrará una disposición binaria de manchas; si el haz es paralelo al plano de simetría, la fotografía presentará una línea de simetría; si es un cristal rómbico mostrará una distribución doble de las manchas, con dos ejes de simetría.


Métodos de rotación o del cristal giratorio


Se emplea un monocristal. El cristal se orienta de tal manera que puede hacerse girar según uno de los ejes cristalográficos principales. La cámara es un cilindro de diámetro conocido, coaxial con el eje de giro del cristal, y lleva en su interior una película fotográfica protegida de la luz por una cubierta de papel negro (ver figura 4). Cuando se toma una fotografía de rotación, el cristal gira alrededor de una de las filas reticulares principales, generalmente un eje cristalográfico. Esta fila reticular es perpendicular al haz incidente, y por lo tanto los rayos difractados estarán siempre contenidos en conos cuyos ejes son comunes con el eje de rotación del cristal. Este eje es el de la película cilíndrica, por lo que la intersección de los conos sobre la película será una serie de círculos, que al revelar la película y aplanarse aparecerá como líneas rectas paralelas. Cada una de ellas es una línea de capa, que corresponde a un cono de rayos difractados para los cuales n tiene un cierto valor entero. De esta forma, la línea de capa que incluye el rayo incidente se denomina capa cero o ecuador, la primera línea es la que cumple n = 1, la segunda n = 2 y así sucesivamente. Las líneas de capa no son continuas puesto que las distintas manchas de difracción aparecen solo cuando los tres conos se cortan.



La separación de las líneas de capa viene condicionada por los ángulos de los conos, que a su vez depende de la periodicidad de la fila reticular alrededor de la cual se hace girar el cristal. Por lo tanto, conociendo el diámetro de la película cilíndrica, la longitud de onda de los rayos X y la distancia de la capa n sobre el ecuador en la película, podemos determinar el espaciado o periodo de identidad a los largo del eje de rotación del cristal.

Si en el método del cristal giratorio se toman fotografías de rotación con el cristal girando alrededor de cada uno de los tres ejes cristalográficos, podemos determinar las dimensiones de la celda unidad, de modo que los periodos de identidad determinados al girar el cristal sucesivamente son las aristas de la celda unidad, lo cual es cierto sea cual fuere la simetría del cristal.


Aplicación. La figura 5 muestra una parte de una estructura con coordenadas de átomo individuales con el sitio activo hundido por una red " de la densidad de electrones. " En un proceso iterativo, las coordenadas atómicas son ajustadas para caber en la densidad de electrones. La estructura de pasar es un hecha un promedio por tiempos, hecha un promedio por espacios, puesta de coordenadas de átomo.

Los mapas de densidad de electrones es del sitio activo de una enzima que está implicada en la biodegradación de dinitrotoluene industrial contaminante. El átomo de hierro es visible tal cual el inhibidor de enzima dinitrocatechol. La estructura de esta enzima fue solucionada por Bernie Santarsiero en el laboratorio Mesecar.





Método Powder

Debido a la escasez de los cristales verdaderamente bien formados y la dificultad de llevar a cabo la precisa orientación requerida por los métodos de Laue y de cristal giratorio llevaron al descubrimiento del método del polvo en la investigación de la difracción por rayos X.

En este método la muestra se pulveriza tan finamente como sea posible y se asocia con un material amorfo, en forma de eje acicular de 0.2 a 0.3 mm de diámetro. Esta aguja o muestra de polvo está formada idealmente por partículas cristalinas en cualquier orientación; para asegurar que la orientación de estas pequeñas partículas sea totalmente al azar con respecto del haz incidente, la muestra generalmente se hace girar en el haz de rayos X durante la exposición. La cámara de polvo es una caja plana en forma de disco con una aguja ajustable en el centro de la misma para montar la muestra. La pared cilíndrica está cortada diametralmente por un colimador y un obturador del rayo opuesto a aquel. Se sitúa la película dentro de la cámara, con dos agujeros perforados, de modo que el tubo del colimador y del obturador pasan a través de ellos una vez que la película se adapta adecuadamente a la superficie interna de la cámara (ver figura 6).




Un fino haz de rayos X monocromáticos se hace pasar por el sistema colimador e incide sobre la muestra, que está cuidadosamente centrada en el eje corto de la cámara, de tal manera que la muestra permanece en el haz mientras gira durante la exposición. Los rayos que no han sido desviados pasan a través y alrededor de la muestra y pasan por el obturador antes de salir de la cámara. Los máximos de difracción de un conjunto de planos determinados forman 2 conos simétricos cuyo eje coincide con el haz incidente. El ángulo entre el haz no difractado y los haces difractados que constituyen los conos es de y valores enteros n, dando lugar a conjuntos diferentes de conos de haces difractados. La intersección de cada cono de haces difractados con la película fotográfica produce dos arcos simétricos con respecto a dos centros que representan el lugar de entrada y salida del haz de rayos X de la cámara (Figura 7).

La película se coloca de manera envolvente en la cámara (de manera circular) talque registra el patrón de difracción como se muestra e la figura 8. Cada cono que cruza la película da la línea de difracción, que son vistas como arcos (figura 9).


Cuando la película se despliega se observa una serie de arcos concéntricos y simétricos con respecto a los dos orificios.


Así, por ejemplo consideraremos el modelo en polvo de un cristal de una muestra de la cual se sabe tiene estructura cubica, pero se desconoce cuál. Aplicando este método, obtenemos la tira de película de la cámara de Debye después de la exposición, desarrollamos y fijamos. De la tira medimos la posición de cada línea de difracción. De los resultados es posible asociar la muestra con un tipo particular de estructura cúbica y también determinar un valor para su parámetro de enrejado.


Cuando la película es puesta el punto S1 puede ser medido. Esto es la distancia a lo largo de la película, de una línea de difracción, al centro del agujero para el rayo transmitido directo. Para reflexiones traseras, por ejemplo con 2q> 90 ° puede medirse S2 como la distancia del punto de entrada de rayo.



Determinando dichas cantidades y utilizando la ley de Bragg y lo que se conoce sobre los planos de la red reciproca, se obtiene el tipo de cristal que es (por analogía).

Nombre: Victor Adolfo Vega Flores
Ci: V-18.353.846
Asignatura: CRF


domingo, 30 de mayo de 2010

Difracción de Fraunhofer y de Fresnel

Difracción de Fraunhofer

La Difracción de Fraunhofer o también difracción del campo lejano es un patrón de difracción de una onda electromagnética cuya fuente (al igual que la pantalla) se encuentran infinitamente alejadas del obstáculo, por lo que sobre éste y sobre la pantalla incidirán ondas planas. La difracción de Fraunhofer es, de esta manera, un caso particular de la difracción de Fresnel, y que también resulta más sencillo de analizar. Este tipo de fenómeno es observado a distancias más lejanas que las del campo cercano de la difracción de Fresnel y ocurre solamente cuando el número de Fresnel es mucho menor que la unidad y se puede realizar la aproximación de rayos paralelos.



Difracción de Fresnel

El físico francés Augustin-Jean Fresnel (1788 – 1827) investiga los fenómenos de la luz en el campo de la óptica, y deriva este principio de difracción en el año 1816.

La Difracción de Fresnel o también difracción del campo cercano es un patrón de difracción de una onda electromagnética obtenida muy cerca del objeto causante de la difracción (a menudo una fuente o apertura). Más precisamente, se puede definir como el fenómeno de difracción causado cuando el número de Fresnel es grande y por lo tanto no puede ser usada la aproximación Fraunhofer (difracción de rayos paralelos).



La integral de Difracción de Fresnel

El patrón de difracción del campo eléctrico en el punto (x, y, z) está dado por:




donde



i es la unidad imaginaria, y :




La solución analítica de esta integral es imposible excepto para las geometrías de difracción más simples. Por lo tanto esta integral se deberá,para otros casos, calcular numéricamente.


La difracción de Fresnel

La condición de validez es algo débil y permite que los parámetros de dimensión del obstáculo tengan valores comparables: la apertura es pequeña comparada con el camino óptico. De esta forma es interesante investigar en el comportamiento del campo eléctrico sólo en una pequeña porción de área cercana al origen de la fuente luminosa, es decir para valores de x e y mucho más pequeños que z, en este caso se puede asumir que

esto viene a significar que:



De esta forma, al igual que la difracción de Fraunhofer, la difacción de Fresnel ocurre debido a la curvatura del frente de onda. Para la difracción Fresnel el campo eléctrico en un punto ubicado en (x, y, z) está dado por:



Esta es la integral de difracción de Fresnel; y viene a significar que si la aproximaciónde Fresnel es válida, el campo propagado es una onda esférica, originada en la apertura y moviéndose a lo largo del eje Z. La integral modula la amplitud y la fase de una onda esférica. La solución analítica de esta expresión es sólo posible en casos muy raros. Para casos muy simples, en los que hay distancias muchos más grandes debe verse la difracción de Fraunhofer.




http://es.wikipedia.org/wiki/Difracci%C3%B3n_de_Fraunhofer
http://es.wikipedia.org/wiki/Difracci%C3%B3n_de_Fresnel

Nombre: Victor Adolfo Vega Flores
Ci: V-18.353.846
Asignatura: CRF

Difracción del sonido y rayos x



Difracción del sonido


La difracción es un fenómeno que afecta a la propagación del sonido. Hablamos de difracción cuando el sonido en lugar de seguir en la dirección normal, se dispersa en una contínua direccion.

La explicación la encontramos en el Principio de Huygens que establece que cualquier punto de un frente de ondas es susceptible de convertirse en un nuevo foco emisor de ondas idénticas a la que lo originó. De acuerdo con este principio, cuando la onda incide sobre una abertura o un obstáculo que impide su propagación, todos los puntos de su plano se convierten en fuentes secundarias de ondas, emitiendo nuevas ondas, denominadas ondas difractadas.

La difracción se puede producir por dos motivos diferentes:

1.porque una onda sonora encuentra a su paso un pequeño obstáculo y lo rodea. Las bajas frecuencias son más capaces de rodear los obstáculos que las altas. Esto es posible porque las longitudes de onda en el espectro audible están entre 3 cm y 12 m, por lo que son lo suficientemente grandes para superar la mayor parte de los obstáculos que encuentran.

2.porque una onda sonora topa con un pequeño agujero y lo atraviesa. La cantidad de difracción estará dada en función del tamaño de la propia abertura y de la longitud de onda. Si una abertura es grande en comparación con la longitud de onda, el efecto de la difracción es pequeño. La onda se propaga en líneas rectas o rayos, como la luz. Cuando el tamaño de la abertura es menor en comparación con la longitud de onda, los efectos de la difracción son grandes y el sonido se comporta como si fuese una luz que procede de una fuente puntual localizada en la abertura.



Cristalografía de rayos X

La cristalografía de rayos X es una técnica consistente en hacer pasar un haz de rayos X a través de un cristal de la sustancia sujeta a estudio. El haz se escinde en varias direcciones debido a la simetría de la agrupación de átomos y, por difracción, da lugar a un patrón de intensidades que puede interpretarse según la ubicación de los átomos en el cristal, aplicando la ley de Bragg.

Es una de las técnicas que goza de mayor prestigio entre la comunidad científica para dilucidar estructuras cristalinas, debido a su precisión y a la experiencia acumulada durante décadas, elementos que la hacen muy fiable. Sus mayores limitaciones se deben a la necesidad de trabajar con sistemas cristalinos, por lo que no es aplicable a disoluciones, a sistemas biológicos in vivo, a sistemas amorfos o a gases.

Es posible trabajar con monocristales o con polvo microcristalino, consiguiéndose diferentes datos en ambos casos. Para la resolución de los parámetros de la celda unidad puede ser suficiente la difracción de rayos X en polvo, mientras que para una dilucidación precisa de las posiciones atómicas es conveniente la difracción de rayos X en monocristal.

La cristalografía de rayos X desempeñó un papel esencial en la descripción de la doble hélice de la molécula de ADN (Véase también: Rosalind Franklin, James D. Watson, Francis Crick).

Esta técnica se utiliza ampliamente en la determinación de las estructuras de las proteínas.



Aspectos Físicos


El fenómeno de difracción es debido esencialmente a la relación de fases entre dos o más ondas. Las diferencias de camino óptico conducen a diferencias de fase que a su vez producen un cambio en la amplitud. Cuando dos ondas están completamente desfasadas se anulan entre sí, ya sea porque sus vectores sean cero o porque estos sean igual en magnitud pero en sentido contrario. Por el contrario, cuando dos ondas están en fase, la diferencia de sus caminos ópticos es cero o un número entero de la longitud de onda.

Cuando consideramos la difracción de rayos x monocromáticos y paralelos en estructuras ordenadas, existen diferencias de camino óptico. Esto sucede por dispersión y no por alguna interacción entre los rayos x y los átomos de las estructuras. La difracción de rayos x es descrita completamente por la Ley de Bragg.

La difracción de rayos x ocurre sólo cuando la longitud de onda es del mismo orden que los centros de dispersión. Así, para estas ondas electromagnéticas se necesitan rejillas de dispersión del orden de Å. Sólo en la naturaleza y, en particular, en las separaciones interatómicas se encuentran estas distancias. Lo anterior se deduce de la ley de Bragg. Se debe cumplir que sen(θ) sea menor que uno entonces se tiene que:

Por consiguiente nλ debe ser menor que 2d. Para el primer máximo de difracción n=1 y se debe cumplir para que haya difracción que λ <>


Métodos de Difracción de Rayos X

Existen tres métodos para producir difracción de rayos x. Método de Laue, Método de rotación de cristal y método Powder.

Método de Laue

Consiste en hacer incidir en un cristal un espectro continuo de rayos x, de tal manera que para cada longitud de onda, existirá un determinado ángulo. El método de transmisión de Laue (a) en la figura consiste en colocar esta película detrás del cristal como se ve a la derecha. Por el contrario, en el método de reflexión (b) en la figura de Laue, la película se interpone entre la fuente y el cristal, esta posee un agujero que deja pasar los haces de rayos x.

En el método de transmisión de Laue los haces difractados forman un patrón de machas circular o elíptico y en cambio, el patrón formado en el método de reflexión de Laue son hipérbolas


Método de rotación de cristal

Se hace incidir un haz de rayos x monocromáticos sobre un cristal. Para detectar los haces difractados, la película es envuelta de forma cilíndrica de tal manera que rodee al cristal. El cristal se hace girar sobre el eje perpendicular al haz incidente, el cual coincide con el eje del cilindro. Para encontrar el ángulo al cual se cumple la ley de Bragg, el giro del cristal se hace sucesivamente de 0° a 90°, hasta encontrar el patrón de difracción mostrado en la figura.


Método Powder

El cristal a analizar es reducido a polvo de tal manera que forme un conjunto de pequeños cristales. Si se tuviese un cristal y en él se hiciera incidir un haz monocromático, el haz se difractaría a un ángulo en particular. Al hacer girar este cristal de 0° a 360°, el haz formará un cono cuyo eje coincide con el del haz incidente. El interés de este método en tomar varios cristales, es formar este cono con las distintas orientaciones posibles de los diversos cristales.

Ley de Bragg

La fórmula de Bragg permite calcular la longitud de onda de los rayos a partir de la constante reticular d, o inversamente, ésta última si se conoce la longitud de onda, y de aquí su doble aplicación al estudio de los rayos X y de la estructura de los cristales. Esta técnica también juega un importante papel en los estudios de la estructura de líquidos y moléculas orgánicas, y ha sido decisiva en la determinación de la estructura de la doble hélice del ADN y subsiguiente investigación en genética molecular.


http://es.wikipedia.org/wiki/Difracci%C3%B3n_(sonido)
http://es.wikipedia.org/wiki/Difracci%C3%B3n_de_rayos_X



Nombre: Victor Adolfo Vega Flores
Ci: V-18.353.846
Asignatura: CRF

Transformada de Fourier y la Red Recíproca

Un átomo y su transformada de Fourier:

Nótese que ambas funciones tienen simetría esférica y mientras que el átomo aparece nítido su transformada es ancha y suave. Esto ilustra la relación recíproca entre una función y su transformada.


Una molécula y su transformada de Fourier:
La molécula consiste de 7 átomos, su transformada presenta cierto detalle pero la forma es todavía la de la transformada atómica. Esta transformada es el producto de la trasformada atómica y las posiciones.

Una red y su transformada de Fourier:

Los puntos de la red son puntos delta (exagerados). Nótese que la transformada de la red es una red con direcciones y espaciamientos recíprocos. Este es el origen de la red recíproca.

Un cristal y su transformada de Fourier:
Finalmente construimos un cristal haciendo una convolución de una molécula con una red. El resultado es una estructura cristalina. La transformada de Fourier es pues el producto de la transformada molecular y la red recíproca.


Un pato y su transformada de Fourier:
Noten sus mercedes que la imagen real da a lugar a un patrón de difracción Hermitiano, al cual ustedes conocen bien.


Un pato y su transformada de Fourier inversa:
Si tenemos los términos de baja resolución del patrón de difracción obtenemos un pato de baja resolución. Es decir hay una pérdida considerable



Si perdemos datos de resolución media. Habrá aristas finas pero aparecerá chorreado


Cuando tenemos los términos de alta resolución solamente veremos los bordes del pato . Será difícil distinguir las clases de átomos


Cuando tenemos que un segmento de los datos se ha perdido las características perpendiculares al segmento aparecerán borrosas. Habrá serios problemas con los factores de temperatura


Si perdemos 10% de los datos en capas. Se observa este efecto



Si perdemos 10% de los datos aleatoreamente. Se promedian las pérdidas



http://depa.fquim.unam.mx/jesusht/02-rayosX-difrac-SA.pdf

Nombre: Victor Adolfo Vega Flores
Ci: V-18.353.846
Asignatura: CRF

Difracción y la transformada de Fourier

¿Qué es la transformada de Fourier?

Es una representación de alguna función en términos de un conjunto de ondas sinusoidales. Este conjunto de ondas es ortogonal, es decir que ninguna de las funciones del conjunto puede obtenerse como una combinación lineal de las otras. En particular un conjunto de ondas sinusoidales de diferente frecuencia es ortogonal. Una buena analogía es la de los tres colores primarios (Rojo, verde y azul), no hay ninguna combinación de dos de ellos que produzca el tercero, pero con estos tres puedo generar cualquier color. De manera similar mezclando ondas sinusoidales de cualquier frecuencia en las proporciones adecuadas se puede construir cualquier función arbitraria.

Se puede demostrar que es posible representar cualquier función continua sumando suficientes ondas sinusoidales de la frecuencia y amplitud apropiada. Supongamos que un cristal imaginario que tiene tres átomos en la celda dos carbonos y un oxígeno. La densidad electrónica de la celda se verá así:


Ahora trataremos de representar esta función en términos de ondas sinusoidales. La primera tiene una frecuencia de 2 (es decir, se repite dos veces a lo largo de la celda). Uno de los picos representará al oxígeno y el otro a los dos carbonos



La segunda onda tiene una frecuencia de tres (se repite tres veces). Pero tiene diferente fase (empieza en diferente lugar que la otra onda). Y además la amplitud es diferente (es más chaparrita)



Finalmente, añadimos una onda con una frecuencia de cinco. Que también tiene diferente amplitud. Y además la alineamos con los dos átomos de carbono



Ahora las ponemos juntas



Y las sumamos:



Nótese que la suma de las tres ondas es una buena aproximación de la celda original.Entonces habiendo escogido correctamente la amplitud, la frecuencia y el número de ondas pudimos representar correctamente la celda. Ahora haremos la transformada de Fourier de la misma celda:



El resultado muestra una serie de picos estando los mayores en 2, 3 y 5 en el eje x, los cuales corresponden a las ondas que elegimos. Si analizamos con cuidado, nos encontramos además que la altura de los picos corresponden a la amplitud de las tres ondas. Los picos pequeños de la transformada corresponden a ondas adicionales que se requirieron para ajustar perfectamente la densidad original. Entonces la transformada de Fourier nos dice cual es la mezcla de ondas sinusoidales que se necesitan para hacer cualquier función. Obviamente las ondas se siguen hasta el infinito, de manera que tenemos muchísimas copias de la celda unitaria. Otras características de la transformada son que los valores de frecuencia pueden ser positivos o negativos y además son sus valores son complejos no reales.

Pero ¿Cuál es la conexión entre la difracción de Rayos X y las transformadas de Fourier?. Para responder esto, debemos deducir ¿cómo un sólido cualquiera dispersará una onda incidente. Así cuando la onda choca con el sólido, la radiación se dispersará. Consideraremos la onda difractada en una dirección particular, y calcularemos la dispersión total sumando la dispersión en esa dirección desde cada uno de los puntos del sólido. La dirección del haz incidente la representamos por el vector k. El haz difractado en la dirección escogida será k’. Por conveniencia, hacemos que su magnitud sea el recíproco de la longitud de onda del haz:


Una gráfica que presenta esto es esta:



Ahora debemos hacer la suma de la dispersión en todo el sólido y escoger un origen dentro del sólido. Luego calculamos la diferencia entre la longitud de las trayectorias entre un haz dispersado desde un punto arbitrario y un haz imaginario dispersado desde el origen.



La diferencia de en la longitud de la trayectoria se traduce en una diferencia de fase entre las dos ondas. Al sumar la dispersión en todo el sólido tomando en consideración la capacidad de dispersión de cada punto, p(r) y de la representación compleja del cambio de fase. Si sustituimos un nuevo vector s para la diferencia entre k y k’, obtenemos la integral de Fourier estándar:



Definiendo:



y sumando para todas las r:



http://depa.fquim.unam.mx/jesusht/02-rayosX-difrac-SA.pdf

Nombre: Victor Adolfo Vega Flores
Ci: V-18.353.846
Asignatura: CRF